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Microscopio

Roma, Colosseo, travertino con pellicola ad ossalati e concrezione nerastra superficiale, osservazione al microscopio polarizzato in sezione sottile, Ingrandimento 25x.
Roma, Colosseo, travertino con pellicola ad ossalati e concrezione nerastra superficiale, osservazione al microscopio polarizzato in sezione sottile, Ingrandimento 25x.

Definizione

La microscopia è una tecnica d’osservazione di frammenti di materiale esaminati su campioni in sezione lucida e/o sottile. Tale tecnica può essere ottica, con vari tipi di microscopio (ad esempio: stereomicroscopio, ottico polarizzatore in luce trasmessa o in luce riflessa), oppure  elettronica, con l’analisi mediante un fascio di elettroni che scansiona la superficie del campione (Scanning Electron Microscope – SEM) oppure (Trasmission Electron Microscopy – TEM).

Generalità

L’applicazione della microscopia nel campo del restauro risulta fondamentale per lo studio dei materiali costitutivi e del degrado (morfologia, composizione chimica e minero-petrografica). L’osservazione di campioni in sezione lucida (in particolare intonaci dipinti) al microscopio ottico in luce riflessa a basso ingrandimento, ad esempio tra 5x e 40x, è impiegata per definire gli spessori degli strati, la loro adesione, le successioni stratigrafiche delle coloriture, le degradazioni superficiali e la presenza di prodotti di finitura. Le analisi minero-petrografiche in sezione sottile al microscopio polarizzatore permettono di studiare la composizione mineralogica, la struttura e la tessitura di un lapideo naturale o artificiale utile per la caratterizzazione del materiale e, in particolare per i lapidei, per la ricerca delle cave di provenienza, per lo studio dell’aggregato, degli additivi e del legante presente in una malta o in un calcestruzzo, nonché per la caratterizzazione dei fenomeni di degrado. Oggi la microscopia ottica si è arricchita di dispositivi ausiliari per gli esami in ultravioletto (fluorescenza UV) e nel vicino infrarosso. Il SEM, con ingrandimenti fino a 400.000x, consente di osservare la struttura cristallina del materiale, le eventuali alterazioni e il livello di penetrazione dei consolidanti e protettivi. Solitamente l’osservazione al SEM viene completata con analisi realizzate con microsonde elettroniche, come la spettrometria a raggi X, che forniscono per singoli punti la composizione chimica del materiale.

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